原位光學(xué)樣品桿

【產(chǎn)品概述】PicoFemto系列透射電鏡原位光學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，樣品桿內(nèi)集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實(shí)現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測量或光譜學(xué)表征研究。

產(chǎn)品型號：Apollo
更新時(shí)間：2025-05-08
訪問量：6419
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品詳情

PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位光學(xué)樣品桿是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，同時(shí)集成光纖單元，可外接光源或光譜儀，開展光電測量及光譜學(xué)分析，大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

技術(shù)指標(biāo)

電學(xué)測量	光纖指標(biāo)
1.包含一個電流電壓測試單元；	1.芯徑可選，外徑250um；
2.電流測量范圍：1nA-30mA；	2.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選；
3.電流分辨率：100fA；	3.光纖快拆接口：SMA、FC等；
4.電壓輸出范圍：±10V，±150V；	4.光源可選：4波段半導(dǎo)體激光器、波長連續(xù)可調(diào)氙燈光源；
5.軟件自動測量：I-V、I-t	5.光譜儀：根據(jù)用戶具體需求匹配

zhangchao nanoletter.png

Optomechanical Properties of MoSe2 Nanosheets as Revealed by InSitu Transmission Electron Microscopy

doi.org/10.1021/acs.nanolett.1c03796

Nano Lett. 2022, 22, 2, 673–679

    產(chǎn)品選型

    原位光學(xué)樣品桿具有單傾、雙傾兩個版本，用戶可根據(jù)實(shí)際實(shí)驗(yàn)需求自行選擇。

    澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號光學(xué)樣品桿，同時(shí)保證透射電鏡原有分辨率。

    國內(nèi)部分用戶

    典型案例

    1、透射電鏡內(nèi)的原位光電測量實(shí)驗(yàn)；

    2、透射電鏡內(nèi)的陰極發(fā)光（CL）實(shí)驗(yàn)；

    3、透射電鏡內(nèi)的原位電致發(fā)光譜實(shí)驗(yàn)。

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